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產(chǎn)品型號(hào): JL-1197粒度分析儀
所屬分類(lèi):頻譜分析儀
產(chǎn)品時(shí)間:2024-07-14
簡(jiǎn)要描述:JL1197寬量程激光粒度儀JL-1197粒度測(cè)試儀JL-1197型寬量程激光粒度儀是成都精新公司新推出的新一代粒度儀,儀器參照ISO13320、ISO13321等標(biāo)準(zhǔn),利用光子相關(guān)光譜法、全量程Mie 散射2種原理,推算測(cè)量顆粒粒度分布??煞謩e同時(shí)采用兩種方式測(cè)試,達(dá)到Z佳測(cè)量精度。主要針對(duì)粉體顆粒進(jìn)行粒度分析,Z大特點(diǎn)是粒度分析動(dòng)態(tài)范圍寬,重復(fù)性好。
JL1197寬量程激光粒度儀JL-1197粒度測(cè)試儀
一、適用范圍
納米段:納米涂料、油墨、納米電子材料、納米金屬粉、納米陶瓷、納米氧化物、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、油漆、顏料以及其它所有納米材料研究、生產(chǎn)與使用等行業(yè)干粉、乳液的粒度分布測(cè)試。
微米段:化工材料、電子材料、電池材料、造紙、冶金、陶瓷、建材、磨料、醫(yī)藥、涂料、水泥、食品、農(nóng)藥、碳酸鈣、滑石粉、高嶺土、金剛石、氧化鋁、稀土、催化劑、硅灰石、電氣石、云母、重晶石、鋁粉、鐵粉、鎂粉、鉬粉、銅粉、鋅粉、發(fā)泡劑、石墨、顏料等各種行業(yè)干粉、乳液等的粒度分布測(cè)試。
二、儀器性能
測(cè)試范圍:1nm~2000μm
納米段:測(cè)試1nm~10000nm,采用光子相關(guān)光譜法;
微米段:測(cè)試0.02μm~2000μm,采用全量程Mie 散射;
分段量程:根據(jù)被測(cè)樣品實(shí)際粒徑狀態(tài),菜單選擇納米段、微米段或全量程段測(cè)試。不同量程范圍的測(cè)試,點(diǎn)擊控制鍵后自動(dòng)完成轉(zhuǎn)換,不需更換部件。
信號(hào)光源:波長(zhǎng)0.635μm 雙半導(dǎo)體激光器光源,穩(wěn)定性好,使用壽命長(zhǎng)。
檢 測(cè) 器:80級(jí)多元檢測(cè)器,高增益低噪聲光電倍增管,雙管路檢測(cè)。
測(cè)試精度:微粉級(jí)D50測(cè)試重復(fù)性誤差≤±1% (國(guó)家標(biāo)樣)。
進(jìn)樣系統(tǒng):配有微量靜態(tài)樣品池、循環(huán)進(jìn)樣池2種,可選擇使用。
測(cè)試軟件:可在Windows XP/ Windows 7(32位)系統(tǒng)下運(yùn)行,軟件有中、英文版本,測(cè)試界面友好,菜單提示完整,操作簡(jiǎn)便。
結(jié)果輸出:結(jié)果顯示粒度分布表格和曲線圖,并有D10、D50、D90、D97、平均粒徑和比表面積等數(shù)據(jù)及粒徑分布曲線。測(cè)試結(jié)果可以直接顯示、保存和打印,也可以轉(zhuǎn)換為圖像文件和文本文件等格式。
工作電源:AC220V ±10% 50Hz 功率:300W
環(huán)境要求:使用環(huán)境應(yīng)清潔,溫度:0-40℃
儀器外形尺寸:長(zhǎng)880mm 寬410mm 高500mm 儀器重量:90kg
三、儀器特點(diǎn)
1、 該款儀器*繼承了JL系列產(chǎn)品的所有技術(shù)特點(diǎn),并有所創(chuàng)新。儀器功能強(qiáng)大,既能測(cè)試納米級(jí)粉體又能測(cè)試微米級(jí)粉體,兩種測(cè)試功能只需點(diǎn)一下鼠標(biāo),幾秒鐘就實(shí)現(xiàn)快捷轉(zhuǎn)換。
2、 該儀器粒度分析動(dòng)態(tài)范圍寬,重復(fù)性好,操作簡(jiǎn)單方便。設(shè)計(jì)的探測(cè)器陣列,保證了各種粒度顆粒散射信號(hào)的有效接收,從而保證了對(duì)寬分布的樣品測(cè)量結(jié)果更為準(zhǔn)確。
3、 儀器集光學(xué)、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環(huán)、全自動(dòng)清洗一體化,電腦控制下自動(dòng)對(duì)中校零。測(cè)試時(shí)樣品在管道內(nèi)流動(dòng)的時(shí)間短,避免了樣品分散后的分層和重新團(tuán)聚,從而保證儀器重復(fù)性、穩(wěn)定性好。
4、 具有2種進(jìn)樣系統(tǒng)可選,滿足您的各種測(cè)試需求。2種進(jìn)樣系統(tǒng)能方便地互換,包括普通型、微量型。
5、 用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇不同的數(shù)據(jù)處理方法和分布模型。
6、 儀器包含多種分布模式,有自由分布、對(duì)數(shù)正態(tài)分布、R-R分布等,可以滿足不同樣品的測(cè)試和對(duì)比的需要。
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